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提示
下載材料科學(xué)是工業(yè)發(fā)展的基礎(chǔ),材料測(cè)試則是保障材料科學(xué)發(fā)展的基礎(chǔ)。
材料包括介質(zhì)材料、磁性材料、磁性材料、壓電材料等,而近年隨著第三代、第四代半導(dǎo)體器件的星期,晶體材料的測(cè)試越發(fā)重要。
晶體所的主要研究方向包括新的功能晶體的設(shè)計(jì)和探索,實(shí)用功能晶體材料的生長(zhǎng)、表征及其應(yīng)用;低維晶體材料包括半導(dǎo)體薄膜、鐵電薄膜、纖維、微納材料及其相關(guān)原型器件的研究和應(yīng)用;晶體生長(zhǎng)及材料制備過(guò)程的基礎(chǔ)研究等。開(kāi)展功能晶體及相關(guān)材料、功能晶體器件的設(shè)計(jì)、制備和應(yīng)用;逐步擴(kuò)展與功能晶體相關(guān)的各種新型功能材料的研究。
測(cè)試晶體材料的壓電、介電、阻抗等參數(shù)

TH2851-030標(biāo)準(zhǔn)配置即可滿(mǎn)足客戶(hù)測(cè)試需求,壓電、介電、阻抗曲線(xiàn)可用曲線(xiàn)掃描功能滿(mǎn)足