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一招!如何精準(zhǔn)測(cè)試光電器件中的PN結(jié)電容?
日期:2024-01-25 16:37:57

研究背景

從古代的烽火臺(tái)到如今的光通信領(lǐng)域,作為一種可以承載信息的載體一直被廣泛應(yīng)用。其中,光電探測(cè)器基于光電效應(yīng)的原理,可將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)(響應(yīng)速度快、高靈敏度等優(yōu)勢(shì)),以實(shí)現(xiàn)對(duì)光強(qiáng)度、波長(zhǎng)、頻率等參數(shù)的測(cè)量和分析。

2.1.jpg


光電探測(cè)器根據(jù)其工作原理和結(jié)構(gòu)特點(diǎn)可分為光電二極管、PIN型光電二極管等,其中光電二極管是利用半導(dǎo)體PN結(jié)和內(nèi)部反射機(jī)制實(shí)現(xiàn)對(duì)入射光信號(hào)的轉(zhuǎn)換,本次將圍繞光電二極管中的PN結(jié)電容進(jìn)行介紹。

測(cè)試對(duì)象·PN結(jié)電容

PN結(jié)的最大特性是單向?qū)щ娦?/strong>,當(dāng)正向電壓到達(dá)一定值時(shí),PN結(jié)被導(dǎo)通;當(dāng)反向電壓在一定范圍內(nèi)時(shí),PN結(jié)產(chǎn)生微弱的反向飽和電流;當(dāng)反向電壓超過(guò)一定值時(shí),PN結(jié)被擊穿。

2.2.png

在PN結(jié)處,會(huì)因?yàn)橥饧与妷寒a(chǎn)生一定電荷積累,這就是結(jié)電容效應(yīng),PN結(jié)電容=擴(kuò)散電容+勢(shì)壘電容(Cj=Cb+Cd),電容特性是隔直通交,當(dāng)通過(guò)電容的電壓頻率很低時(shí),結(jié)電容可以忽略,PN結(jié)還是單向?qū)ā?/span>

在光電芯片中,工作頻率較高,如果,PN結(jié)的電容較大,就更容易在高頻率下變?yōu)殡p向?qū)ǖ氖顟B(tài)??梢?jiàn),PN結(jié)電容是越小越好。

測(cè)試要求

在光電應(yīng)用中,需要測(cè)試大量探測(cè)器和激光發(fā)射器的PN結(jié)電容,大概在1pF左右。

測(cè)試過(guò)程

一說(shuō)到測(cè)電容,我們都會(huì)選擇阻抗分析儀/LCR電橋,但同時(shí)也會(huì)遇到以下幾個(gè)難點(diǎn):

1,電容值?。簩?duì)于芯片,1pF左右的電容;對(duì)于器件,10pF左右,這個(gè)數(shù)值很小,對(duì)于分辨率不高的普通LCR,沒(méi)有這個(gè)測(cè)試能力;

2,測(cè)試頻率較高:一般1MHz起,2MHz以內(nèi);

3,需要較大的偏置:10V至30V,甚至還有40V;

4,對(duì)于芯片,在測(cè)試電容中,pad或者pin如果在一面,可以用兩個(gè)探針扎,兩根針的校準(zhǔn)相對(duì)簡(jiǎn)單;如果處在芯片的不同面,需要用芯片的托盤(pán)作為負(fù)極連接(無(wú)法扎針),校準(zhǔn)的細(xì)節(jié)就很考究,需要測(cè)試者較好的工程調(diào)試經(jīng)驗(yàn)。

2.3.png

TH2838系列是采用自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器,其0.05%的基本精度、最快達(dá)5.6ms的測(cè)試速度、20Hz-2MHz的頻率范圍及高達(dá)1GΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。

現(xiàn)代科技發(fā)展日新月異,相信光電探測(cè)器技術(shù)作為其中重要的一員,將繼續(xù)在通信、醫(yī)療、環(huán)保、制藥等領(lǐng)域發(fā)光發(fā)熱。